Sistema de metrología óptica 3D de gran superficie, S ancho



Sistema de metrología óptica 3D de gran superficie, S ancho p Copia en PDF p Perfil del proveedor Sensofar Metrology se enorgullece en anunciar el lanzamiento de la próxima herramienta de metrología para áreas amplias. El S wide es un sistema de metrología óptica de área grande 3D sin contacto de alto rendimiento diseñado para la medición a microescala, con capacidades avanzadas de inspección y análisis. El S wide es una solución dedicada diseñada para medir rápidamente grandes áreas de muestra de hasta 300 x 300 mm (11.
8 x 11.8 in). Ofrece todos los beneficios de un microscopio digital integrado en un instrumento de medición de alta resolución.
Extremadamente fácil de usar con un botón de adquisición de datos. El nuevo sistema de metrología óptica 3D de gran área de Sensofar Metrology, el S wide Las características más significativas son: Medición de altura de un disparo de hasta 40 mm sin escaneo Z. Repetibilidad de altura submicrométrica en toda el área extendida.
Desviación de la forma de los modelos CAD 3D (proporcionando la diferencia geométrica y la medición de tolerancia). Lentes bi-telecéntricas con muy baja distorsión de campo que proporcionan una metrología precisa. El S wide está destinado a las siguientes soluciones: Fabricación avanzada Arqueología y paleontología Electrónica de consumo Dispositivos médicos Moldura Óptica Ver la industria El S wide es ideal para todos los entornos de laboratorio, sin limitaciones y como sensor en las áreas de producción.
Cada S ancho se fabrica para ofrecer mediciones precisas y trazables. Los sistemas están calibrados y son rastreables de acuerdo con los estándares ISO 25178 y VDI2634-2. El S wide viene con SensoSCAN, que maneja el sistema con una interfaz clara, intuitiva y fácil de usar, y se combina con el nuevo software SensoVIEW para una amplia gama de tareas de análisis.
Se han creado módulos de análisis automatizados para facilitar todos los procedimientos de control de calidad con SensoPRO . Publicado en: Negocios / Finanzas | Dispositivo / Noticias tecnológicas p Copia en PDF p Perfil del proveedor Citas Utilice uno de los siguientes formatos para citar este artículo en su ensayo, documento o informe: APA Sensofar Metrology. (2020, 10 de marzo).
Sistema de metrología óptica 3D de gran superficie, S ancho. Noticias-Médicas. Recuperado el 10 de marzo de 2020 de https: // www.
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(consultado el 10 de marzo de 2020). Harvard Sensofar Metrology. 2020.
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